高低溫環(huán)境試驗箱設(shè)備選擇依據(jù)
發(fā)布日期:2022/12/2 10:59:47
指導(dǎo)產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗GJB150――中華人民共和國《設(shè)備環(huán)境試驗方法》,指導(dǎo)電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗的GB2423――中華人民共和國《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方法指南》等。因此,我們選擇環(huán)境及可靠性試驗設(shè)備時主要的依據(jù)是工程產(chǎn)品的試驗規(guī)范和試驗標(biāo)準(zhǔn)。
其次,為了規(guī)范試驗設(shè)備中環(huán)境試驗條件的容差,保證環(huán)境參數(shù)的控制精度,國家技術(shù)監(jiān)督機構(gòu)及各工業(yè)部門還制訂了一系列的環(huán)境試驗設(shè)備及檢測儀器儀表的檢定規(guī)程。如中華人民共和國GB5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》,又如國家技術(shù)監(jiān)督局頒布實施的JJG190-89《電動振動試驗臺系統(tǒng)試行檢定規(guī)程》等。
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